為期三天的中國（深圳）機器視覺展暨機器視覺技術(shù)與工業(yè)應(yīng)用研討會于深圳國際會展中心（寶安新館）圓滿落下帷幕。
2023年11月1日，為期三天的中國（深圳）機器視覺展暨機器視覺技術(shù)與工業(yè)應(yīng)用研討會于深圳國際會展中心（寶安新館）圓滿落下帷幕。
光場技術(shù)一直以來備受矚目，此次展會期間，奕目科技現(xiàn)場展示了光場金線檢測、屏幕缺陷分層檢測、密封釘缺陷檢測、光場三維建模、光場變倍等一系列引人注目的光場技術(shù)應(yīng)用方案，吸引了廣大觀眾駐足?，F(xiàn)場人流涌動，展位精彩紛呈！
應(yīng)用方案簡介
光場金線檢測方案
Wirebond光場檢測，為傳統(tǒng)金線檢測帶來了革命性的突破，支持隨線全檢，通過光場技術(shù)的應(yīng)用，可提前消除Wirebond工藝段異常帶來的隱患，提升芯片后道封裝良率，避免后端PCBA段損失。
場景方案：
1. 可檢芯片類型: 金線線徑:18≥μm；金線間距:2倍線徑; 金線層數(shù): ≤2層;
2. 可檢芯片尺寸：≤5mmx5mm
3. 可檢線高范圍：100μm ≤H≤ 600μm
4. 缺陷類型: 多線、并線、球偏；少線、斷線、球起、腳起；芯片臟污、劃痕、崩邊，金線塌線、緊線等;
5. 檢測準確率:過檢率: ≤0.1% 漏檢率: ≤0.1%
6. 檢測效率高:UPH>20000pcs
屏幕缺陷分層檢測方案
VOMMA光場屏幕缺陷三維檢測方案，可通過單次拍照精準定位缺陷的層級信息和三維方位，從根本上防范屏幕缺陷帶來的強制報廢問題，幫助生產(chǎn)企業(yè)提高產(chǎn)品的質(zhì)量和競爭力。
場景方案：
1. 可檢屏幕膜材類型: 偏光片、LCD、OLED、Mini LED
2. 缺陷類型: 劃痕，氣泡，毛絲，灰塵，壞點等
3. 可進行芯片金線檢測、偏振薄膜分層檢測
4. 無需投光、單次拍照、多維顯示
5. Z軸重復(fù)精度達0.5μm
光場三維建模
光場三維建模方案可以利用光場技術(shù)快速、準確地重建三維模型，為設(shè)計、制造、科研等領(lǐng)域提供重要的參考和支持。
場景方案：科研高校實驗室
1. 面向高校光學(xué)工程、集成電路、智能制造、生物細胞學(xué)、電子工程中三維數(shù)據(jù)采集微、薄、透光學(xué)檢測;
2. 可用于立體攝影、立體顯微術(shù)、立體影像制作;
3. 可進行芯片金線檢測、偏振薄膜分層檢測等
4. 無需投光、單次拍照、多維顯示;
5. Z軸重復(fù)精度達0.5μm。
光場三維測距
除此之外，此次奕目科技帶來了最新研發(fā)的光場變焦和光場變倍、線掃光場檢測方案，可以提供更加靈活、便捷的成像方式，滿足客戶不同場景下的檢測需求。
光場變倍方案檢測
線掃光場檢測
多重對焦光場檢測
向光而行 共謀新篇
展會圓滿落幕，奕目科技在本次展會上的光場方案展示獲得了廣大專家學(xué)者和企業(yè)家們的關(guān)注和認可，為機器視覺技術(shù)的發(fā)展帶來了新的思路和解決方案。奕目科技將在光場視覺檢測方面不斷聽取客戶的需求，持續(xù)進行技術(shù)迭代，開發(fā)更準確、更高速、更智能的技術(shù)，成為行業(yè)的領(lǐng)跑者。
在此，奕目科技也祝愿所有的合作伙伴，在接下來的日子里，能夠穩(wěn)定發(fā)展，高效運作，快速實現(xiàn)自己的目標和愿望。希望我們能夠繼續(xù)保持良好的合作關(guān)系，同心協(xié)力，共繪未來！
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